【時報記者張漢綺台北報導】半導體檢測廠閎康(3587)115年9月合併營收為5.69億元,微幅優於8月,年增12.31%,再創單月歷史新高,閎康表示,AI半導體競賽正由單一晶片效能,延伸至先進製程、光電互連及高壓供電等領域,帶動MA、FA、RA整合檢測需求持續升溫,閎康結合台灣及日本實驗室服務量能,全力掌握AI晶片、矽光子、高功率半導體及次世代製程所帶動的高階檢測商機。
閎康表示,AI加速器晶片開案持續增加,且先進製程與新世代封裝進入密集研發及驗證階段,帶動高附加價值材料分析(MA)、故障分析(FA)案件增加,且因應AI伺服器對記憶體的需求提升,來自客戶端對NAND flash & HBM高階記憶體的分析需求亦明顯增加,日本等海外實驗室產能擴充效益亦逐步發酵,支撐整體營運維持成長動能。
閎康115年第3季營收16.97億元,年增16.14%,創歷年同期新高,累計前9月合併營收47.65億元,年成長16.99%。
隨著生成式AI算力持續擴張,資料中心挑戰已從晶片效能進一步延伸至供電、散熱與高速傳輸,高功率AI伺服器機櫃功耗持續攀升,為降低大電流傳輸帶來的能源損耗與散熱壓力,資料中心供電架構正朝800V高壓直流方向演進,進一步帶動氮化鎵(GaN)、碳化矽(SiC)等寬能隙半導體於高效率電源轉換系統的應用。
閎康表示,高電壓、高功率環境也衍生新的可靠度與失效分析挑戰,包括動態阻抗退化、介電層劣化、局部漏電及長時間電熱應力等問題,使功率元件從研發、驗證到量產階段,對可靠度分析(RA)及故障分析(FA)要求同步提高。閎康已建構高功率老化驗證與高階故障定位能力,可進行電壓和功率驗證,並進一步追查失效位置與根因。隨著AI伺服器電源系統朝高效率、高功率密度發展,GaN、SiC相關RA及FA檢測需求可望成為新成長動能。
矽光子與共同封裝光學(CPO)檢測需求也正由材料與結構分析延伸至更複雜的光電失效分析,閎康表示,當光引擎、光子積體電路(PIC)與ASIC運算晶片朝高密度整合發展,光波導界面、調變器熱漂移及光耦合對準等新型失效模式增加,進一步推升高階MA與FA需求,閎康已建立從材料分析到光電失效定位的整合檢測能力,可協助客戶縮短研發驗證及除錯時程。
在先進製程方面,閎康表示,產業於2奈米以下GAA之後,已持續投入互補式場效電晶體(CFET)3D垂直堆疊及二維半導體材料等前瞻技術;面對更複雜的垂直結構與超薄材料,材料分析亦將進一步深入原子尺度,閎康具備球差校正穿透式電子顯微鏡(Cs-TEM)等高階MA技術,可進行晶格、界面及微區成分分析。隨CFET與二維材料逐步進入研發與工程驗證階段,相關原子尺度分析需求可望成為MA業務後續成長來源。
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