《其他電》光焱矽光子檢測 邁HVM驗證

【時報-台北電】光焱科技（7728）30日表示，針對量產需求研發的矽光子光缺陷檢測設備Night Jar-H完成開發，目前已與國際一線大廠完成PoT（Proof of Technology）驗證。光焱表示，後續將展開HVM（High Volume Manufacturing）量產驗證，評估導入實際製造流程與量產環境可行性，該設備驗證預計今年底完成。 光焱發言人廖清霖指出，矽光子晶片進入量產階段後，光缺陷的檢出效率與良率管理是產業共同面對的課題。Night Jar-H可在量產流程中篩出高風險晶粒（Risky Die），有助縮短整體量測時間外，有望助解決目前CPO量產關鍵議題之一SiN（氮化矽）良率問題。 光焱表示，矽光子檢測技術自2026年至2027年正由工程驗證走向量產，過程中已逐步克服系統整合與驗證等挑戰，目前積極籌備相關產能，於年底動工新廠，因應未來市場需求。設備驗證持續推進，合作夥伴同步規劃HVM驗證工作，驗證內容已由設備功能驗證，延伸至量產導入與製造流程整合的評估，公司對後續發展樂觀。 HVM驗證是評估技術能否導入量產環境關鍵階段，除確認設備功能外，驗證與既有製造流程整合能力、量測效率、運行穩定性，及對良率管理實際貢獻更重要。 光焱補充，Night Jar與Night Jar-H量產機型在架構上均可支援CPO（共同封裝光學）與近期市場關注度快速升溫的NPO（近封裝光學）兩種路徑。矽光子封裝架構的技術路線目前仍在演進，不論產業短期內走向CPO或NPO，光焱的檢測技術均可適用於相關檢測需求。(新聞來源 : 工商時報一張瑞益／台北報導)