【時報記者張漢綺台北報導】針對專利訴訟一事，汎銓(6830)董事長柳紀綸表示，汎銓所擁有之中華民國第I870008B號「光損偵測裝置」發明專利，並已取得日本及美國發明專利，其核心在於「IR OM + IR影像感測器」之裝置組合，這也是唯一可用於偵測矽光子波段(1310奈米與1550奈米)的關鍵技術配置，只要相關設備中具備此一裝置組合，即已落入專利保護範圍，呼籲光焱科技(7728)以積極誠實態度面對司法程序。 柳紀綸表示，基於本公司長期投入研發之技術成果，以及考量台灣整體科技產業在全球供應鏈中的關鍵地位，仍希望就本次專利主張的核心差異，避免受外界干擾而混淆視聽，特此進一步補充說明。 汎銓所擁有之中華民國第I870008B號「光損偵測裝置」發明專利，也已取得日本及美國發明專利，其核心在於「IR OM + IR影像感測器」之裝置組合，為唯一可用於偵測矽光子波段(1310奈米與1550奈米)的關鍵技術配置，依據本公司對專利範圍之主張，只要相關設備中具備此一裝置組合(如附圖紅框所示)，即已落入專利保護範圍，並不因是否搭配其他硬體、軟體或技術世代差異而有所影響。 柳紀綸強調，相關技術與法律爭點，後續仍將回歸司法程序進行釐清，仍呼籲光焱積極誠實態度面對司法程序，公司仍秉持尊重專業與理性溝通的原則，適時提供市場正確資訊。