【時報記者張漢綺台北報導】針對汎銓(6830)宣稱光焱科技(7728)侵害其第I870008B號「光損偵測裝置」發明專利，光焱科技重申，截至3月26日為止，公司並未收到任何法院相關訴訟函件，後續將積極配合司法程序進行答辯，以捍衛公司、客戶及全體股東之合法權益。 光焱科技指出，公司深耕光學與光電子晶片檢測領域已長達16年，向來極度尊重智慧財產權，所有核心產品均為團隊自主研發，並未且無須使用其他公司之技術與專利，汎銓指稱侵害其第I870008B號「光損偵測裝置」發明專利並求償一事，截至3月26日為止，公司並未收到任何法院相關訴訟函件。 針對汎銓的專利訴求，光焱科技表示，汎銓所宣稱之專利，係採用傳統「金相顯微鏡」組成之方案進行光損量測；而光焱科技則是基於次世代、更先進的「高光譜成像技術感測模組」為核心技術，可高度整合於客戶端之系統（如探針台、電測機）上，直接進行矽光子光學檢測，其中光損檢測僅是光焱在矽光子晶片檢測多功能模組的其中一項技術應用。 光焱科技強調，公司營運、業務及設備出貨均正常進行，財務業務皆不受影響，後續將積極配合司法程序進行答辯，以捍衛公司、客戶及全體股東之合法權益。